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LID光热偏转技术弱吸收仪测量意义
在高功率激光系统中，光学镜片的膜层及体材料吸收较大的话会引起以下热透镜效应进而产生一系列问题：
1.如下图所示的焦距发生变化
2.波前畸变
3.退偏
4.膜层吸收是影响薄膜损伤阈值的一个重要指标
LID光热偏转技术弱吸收仪
采用电极校准得出校正因子Fcal，Ilid为信号强度，Pl为pump光功率。
特点：是无需了解样品材料的特性，便可提供独立校准。如果改变光热偏转系统装置，需要客户自己插入和连接校准样品，利用软件完成自动校准。
此系统采用光热偏转技术，用于测量透明光学材料及镀膜产品受到激光照射后产生的微弱吸收。在强激光照射下，材料内部由于吸收热能产生折射率梯度现象（热透镜效应），当一束探测光经过“热透镜"效应区域时发生位置偏移，通过PSD位移传感器测量其位置偏移量。
操作使用步骤：
1.将要测试的样品制备成合适的形式，如粉末或溶液，并根据需要进行适当的处理，如离心、过滤等。
2.先打开电源开关，然后按照设备说明书上的指导启动仪器软件。注意，应该先让设备预热一段时间。
3.根据设备的设计，使用特定的加载方式把样品放入仪器内部，并且要确保样品处于正确的位置。
4.在仪器软件的控制面板上选择所需的测量模式和相应的参数。这些参数可能包括激光强度、扫描速度、探测器灵敏度等等。
弱吸收仪
http://www.opcrown.com.cn/ParentList-990288.html
https://www.chem17.com/st285519/product_36937801.html
弱吸收仪